其它
商品名稱：薄膜測(cè)試儀/功能薄膜特性測(cè)試儀
商品型號(hào)：DP-DHFC-1
商品型號(hào)：DP-DHFC-1
薄膜測(cè)試儀/功能薄膜特性測(cè)試儀 型號(hào)：DP-DHFC-1
儀器由四探針測(cè)試儀和薄膜電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x兩部分組成。具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、測(cè)量范圍寬、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)。儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能的測(cè)試。
四探針測(cè)試儀由主機(jī)、測(cè)試架等部分組成。可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，測(cè)量擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）、功能材料暗電導(dǎo)和光電導(dǎo)及溫度的變化的特性，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低、中值電阻進(jìn)行測(cè)量。測(cè)試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準(zhǔn)確、游移率小、壽命長(zhǎng)。
薄膜電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x由樣品室、溫控系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、高阻測(cè)量系統(tǒng)等部分組成。
◆ 測(cè)量范圍：電阻測(cè)量范圍：1×106～1×1017Ω；
電阻率：0.001～200Ωcm；
電導(dǎo)率：0.005～1000s/cm；
◆ 可測(cè)晶片直徑： 200mmX200mm；
◆ 探針：碳化鎢或高速鋼；探針間距：1±0.01mm；
◆ 針間絕緣電阻：≥1000MΩ；
機(jī)械游移率：≤0.3%；
機(jī)械游移率：≤0.3%；
◆ 本底真空度：≤10Pa，氣壓可控范圍：10～400Pa；
◆ 襯底加熱 溫度：室溫～200℃。
網(wǎng)址：www.piccadillydesign.com/
相關(guān)產(chǎn)品
產(chǎn)品訂單
聯(lián)系方式
北京亞歐德鵬科技有限公司
聯(lián)系電話：010－51298264/51294858
手機(jī)：15313602957 18210605334
傳真：010-57553286
聯(lián)系人：曹經(jīng)理
地址：北京市門頭溝區(qū)雙峪環(huán)島東南角熙旺中心(東方巴黎時(shí)代廣場(chǎng))B座2137
網(wǎng)址: // www.piccadillydesign.com/
QQ:2577341770 2235197632
alibaba旺旺：depeng201105
聯(lián)系電話：010－51298264/51294858
手機(jī)：15313602957 18210605334
傳真：010-57553286
聯(lián)系人：曹經(jīng)理
地址：北京市門頭溝區(qū)雙峪環(huán)島東南角熙旺中心(東方巴黎時(shí)代廣場(chǎng))B座2137
網(wǎng)址: // www.piccadillydesign.com/
QQ:2577341770 2235197632
alibaba旺旺：depeng201105
相關(guān)分類