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商品名稱：微波光電導載流子復合壽命測試儀/少子壽命測試儀
商品型號：DP-100B
商品型號：DP-100B
微波光電導載流子復合壽命測試儀/少子壽命測試儀 型號：DP-100B
DP-100B型微波光電導載流子復合壽命測試儀是參照半導體設備和材料國際組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設計制造。并且我單位是微波反射法國家標準起草單位之一。本設備采用微波反射無接觸光電導衰退測量方法，適用于硅塊少數載流子壽命的測量，提供無接觸、無損傷、數字顯示的快速測量。壽命測量可靈敏地反映半導體重金屬污染及缺陷存在的情況，是半導體質量的重要檢測項目。
壽命測量范圍：0.25μs-10ms；樣品電阻率下限>0.5Ω·cm。
讀數方式：數字直讀。
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